高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，都會(huì)用到，是各領(lǐng)域?qū)Ξa(chǎn)品測試的*的一項(xiàng)測試箱，兩箱式箱體分為高溫箱和低溫箱；三箱式箱體分為高溫箱,低溫箱,測試箱三部分,采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測物*靜止。

　　高低溫沖擊試驗(yàn)箱的試驗(yàn)步驟分為五部走：預(yù)處理、初始檢測、試驗(yàn)、恢復(fù)、zui后檢測。其中試驗(yàn)的流程如下：

　　1)試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi)并將試驗(yàn)箱內(nèi)溫度升到點(diǎn)，保持一定的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

　　2)高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

　　3)低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長都為準(zhǔn)。

　　4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法,以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差。

　　zui后，我們需要提醒您在使用時(shí)要注意：高溫燙傷，高低溫沖擊試驗(yàn)箱在做高溫試驗(yàn)時(shí)箱內(nèi)溫度很高。試驗(yàn)過程中或測試剛結(jié)束時(shí)，如需打開箱，開門要特別小心，切記，順著門開啟的方向行走，以免燙傷；低溫凍傷，在做低溫試驗(yàn)時(shí)箱內(nèi)溫度很低。試驗(yàn)過程中或試驗(yàn)剛結(jié)束時(shí)，如需打開箱門要特別小心，以免凍傷。